abs共聚物接枝率測定-臺式小核磁技術
ABS樹脂(zhi)(zhi)是由丙(bing)烯(xi)腈、丁二烯(xi)、苯(ben)乙烯(xi)三種單體合成的(de)熱塑(su)性(xing)(xing)工程塑(su)料,其特(te)點是在SAN樹脂(zhi)(zhi)的(de)連(lian)續相中分散著橡膠相顆粒,因(yin)而兼有聚苯(ben)乙烯(xi)的(de)流動(dong)性(xing)(xing)、丁二烯(xi)的(de)抗沖(chong)性(xing)(xing)和丙(bing)烯(xi)腈的(de)耐化學性(xing)(xing)能等(deng)(deng)諸多優點。具有抗沖(chong)擊強度高、耐高溫、易(yi)加工成型等(deng)(deng)特(te)點。
脆(cui)性聚合物SAN可以通過分散進去一些橡膠粒(li)子(zi)的方法變成高抗沖(chong)聚合物。abs共聚物與SAN的主要差別在于受沖(chong)擊時銀紋(wen)(wen)的最大尺寸和數量(liang),隨著(zhu)橡膠含(han)量(liang)的增加,銀紋(wen)(wen)的長度減小,但直到材料斷裂(lie)(lie)為止(zhi)產生的銀紋(wen)(wen)總數卻很多,這些銀紋(wen)(wen)導致了增韌SAN的斷裂(lie)(lie)伸(shen)長率(lv)和吸收能量(liang)的提高。
在abs共聚物內(nei)橡(xiang)(xiang)膠(jiao)起了兩種作用(yong):第一(yi)(yi),橡(xiang)(xiang)膠(jiao)粒子引(yin)發(fa)銀紋;第二(er),在銀紋發(fa)展(zhan)到(dao)一(yi)(yi)定階段時,橡(xiang)(xiang)膠(jiao)粒子也可以終止銀紋,阻礙銀紋的擴大(da)。要(yao)想實現這一(yi)(yi)目的,就必(bi)須(xu)保(bao)證橡(xiang)(xiang)膠(jiao)相(xiang)(xiang)(xiang)與(yu)連(lian)續相(xiang)(xiang)(xiang)之間有一(yi)(yi)定的相(xiang)(xiang)(xiang)容性(xing),而聚丁(ding)二(er)烯(xi)橡(xiang)(xiang)膠(jiao)與(yu)SAN是不相(xiang)(xiang)(xiang)容的,為此必(bi)須(xu)在聚丁(ding)二(er)烯(xi)分(fen)子鏈上接枝(zhi)SAN分(fen)子,以增加其相(xiang)(xiang)(xiang)容性(xing)。
通常abs共聚物生(sheng)產工藝采用的(de)是乳液(ye)接(jie)枝(zhi)本(ben)體(ti)(ti)法,即(ji)通過(guo)乳液(ye)聚合方(fang)法合成(cheng)聚丁二烯乳液(ye),然后在此基礎上接(jie)枝(zhi)丙烯精及(ji)苯乙(yi)烯單體(ti)(ti)生(sheng)成(cheng)接(jie)枝(zhi)聚合物,凝(ning)聚干燥后與(yu)本(ben)體(ti)(ti)法生(sheng)產的(de)SAN樹脂擠(ji)出(chu)共混(hun),該過(guo)程(cheng)的(de)關鍵(jian)部(bu)分是丁二烯聚合和接(jie)枝(zhi)反應過(guo)程(cheng),臺(tai)式小核(he)磁技術可以(yi)評價影(ying)響(xiang)ABS質量的(de)關鍵(jian)參數ABS接(jie)枝(zhi)率。
abs共聚物接枝率測定：
LU等科(ke)學(xue)家(jia)采用多洛倫茲分裂算法將材料(liao)的(de)(de)NMR信號(hao)與(yu)接(jie)枝(zhi)的(de)(de)NMR信號(hao)區分開(kai),從而(er)可以使用1H-NMR對abs共聚(ju)物接(jie)枝(zhi)過程進(jin)行原位監測。低場核(he)磁(ci)技術(shu)接(jie)枝(zhi)率測定方(fang)法的(de)(de)優(you)點是不(bu)受(shou)接(jie)枝(zhi)基團末(mo)端(duan)官能團類型、表(biao)面化學(xue)性質、納米粒子或(huo)組成的(de)(de)限制(zhi),它(ta)還為相關科(ke)學(xue)研究提供(gong)表(biao)征納米顆粒上基團接(jie)枝(zhi)密度(du)的(de)(de)關鍵和標準指南。
abs共聚物接枝率測定-臺式小核磁技術優勢:
臺式(shi)小核(he)磁技(ji)術因為(wei)其設備成本較低,使用簡單,適用于(yu)宏觀樣品等特性,非(fei)常(chang)適用于(yu)快速測定顆(ke)粒(li)表面(mian)接枝率測定。它通(tong)過MSE系列序列實現死(si)時間內的(de)1H核(he)磁信(xin)(xin)號(hao)采集(ji),最da程度(du)的(de)采集(ji)到了接枝在顆(ke)粒(li)表面(mian)的(de)基(ji)團(tuan)中H原子核(he)的(de)信(xin)(xin)號(hao),利用外標法(fa)進行定量分析。
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